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QFN28-0.35-3*3測試座0091TGH用于芯片燒錄老煉功能測試

	價格：258.00 元(人民幣)	產(chǎn)地：廣東深圳
	最少起訂量：1	發(fā)貨地：廣東深圳
	上架時間：2024-11-12 09:00:16	瀏覽量：11
	深圳市鴻怡電子有限公司
	經(jīng)營模式：生產(chǎn)加工	公司類型：私營有限責任公司
	所屬行業(yè)：治具	主要客戶：
	在線咨詢

聯(lián)系方式

聯(lián)系人:William (先生)	手機:13622364332
電話:	傳真:
郵箱:huang@hydz999.com	地址:

詳細介紹

產(chǎn)品參數(shù)
型號	QFN28-0.35-3*3-0091TGH
封裝/規(guī)格	插件
間距	0.35
總針腳數(shù)	28
圓孔/方孔	圓孔
觸頭鍍層	金
工作溫度范圍	-45~155℃
包裝	盒裝
認證機構(gòu)	CE
最小包裝量	1
數(shù)量	1
封裝	QFN
批號	以出貨為準
用途	老煉老化測試
應(yīng)用場景	與老化板配合
芯片尺寸	3*3
品牌	ANDK

QFN28-0.35-3*3-0091TGH芯片測試座
1.引腳：28 signal Pin 1 GND；
2.間距：0.35mm
3.尺寸：3*3mm
4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV（initial）
7.Temperature:-45~155℃
8.Current Rating：1A Max.

測試座側(cè)視圖

測試座頂部視圖，實際結(jié)構(gòu)以圖紙為準

測試座底部視圖，實際結(jié)構(gòu)以圖紙為準

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