| 【歐波同分析中心】第三方檢測(cè)SEM掃描電子顯微鏡測(cè)試電鏡拍樣 |
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價(jià)格：300.00 元(人民幣) | 產(chǎn)地：北京北京 |
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北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司
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廠家： 賽默飛 附件：原位熱臺(tái)、拉伸臺(tái)、EBSD、CL 分辨率：0.8nm（15kv）
廠家： 賽默飛 附件：VP 分辨率：3nm（30kv） 例1：氮化硅陶瓷中硼化鋯及氮化鋯的分布情況 采用背散射信號(hào)表征氮化硅陶瓷中硼化鋯及氮化鋯的分布情況并做元素面分布，選用合適的測(cè)試條件得到的表征結(jié)果
例2：介孔硅上納米級(jí)介孔
例3：電池顆粒表面細(xì)節(jié)
例4：碳酸鑭-口服磷酸鹽結(jié)合劑 采用Inlens Duo 探測(cè)器 SE&BSE模式下 1kv
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